On-chip Generation of Functional Tests with Reduced Delay and Power
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
the effect of functional/notional approach on the proficiency level of efl learners and its evaluation through functional test
in fact, this study focused on the following questions: 1. is there any difference between the effect of functional/notional approach and the structural approaches to language teaching on the proficiency test of efl learners? 2. can a rather innovative language test referred to as "functional test" ge devised so so to measure the proficiency test of efl learners, and thus be as much reliable an...
15 صفحه اولwind farm impact on generation adequacy in power systems
در سال های اخیر به دلیل افزایش دمای متوسط کره زمین، بشر به دنبال روش های جایگزین برای تامین توان الکتریکی مورد نیاز خود بوده و همچنین در اکثر نقاط جهان سوزاندن سوخت های فسیلی در نیروگاه های حرارتی به عنوان مهم ترین روش تولید توان الکتریکی مطرح بوده است. به دلیل توجه به مسایل زیست محیطی، استفاده از منابع انرژی تجدید پذیر در سال های اخیر شدت یافته است. نیروگاه های بادی به عنوان یک منبع تولید توان...
15 صفحه اولthe washback effect of discretepoint vs. integrative tests on the retention of content in knowledge tests
در این پایان نامه تاثیر دو نوع تست جزیی نگر و کلی نگر بر به یادسپاری محتوا ارزیابی شده که نتایج نشان دهندهکارایی تستهای کلی نگر بیشتر از سایر آزمونها است
15 صفحه اولdesign of an analog ram (aram)chip with 10-bit resolution and low-power for signal processing in 0/5m cmos process
برای پردازش سیگنال آنالوگ در شبکه های عصبی ، معمولا نیاز به یک واحد حافظه آنالوگ احساس میشود که بدون احتیاج به a/d وd/a بتواند بطور قابل انعطاف و مطمئن اطلاعات آنالوگ را در خود ذخیره کند. این واحد حافظه باید دارای دقت کافی ، سرعت بالا ، توان تلفاتی کم و سایز کوچک باشد و همچنین اطلاعات را برای زمان کافی در خود نگهدارد. برای پیاده سازی سیستمی که همه این قابلیتها را در خود داشته باشد، کوشش...
15 صفحه اولOn Chip Generation of Functional Tests for High Transition Faults Using Fixed Hardware
-In this proposed method we are test the one combinational circuit. Here this combinational circuit having 36-bit input and 7-bit output. ISCAS-85 C432 27-channel interrupt controller is a combinational benchmark circuit. This paper described an on-chip test generation method for functional broadside tests. The hardware was based on the application of primary input sequences initial from a know...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Bulletin of Electrical Engineering and Informatics
سال: 2017
ISSN: 2302-9285,2089-3191
DOI: 10.11591/eei.v6i1.570